چکیده
تحلیل های پیشرفته در مقیاس نانو مثل «طیف نمایی ریزساختاری جذب اشعه X (XAFS)»، «طیف نمایی رنگ تابی دورانی مغناطیسی اشعه ایکس (XMCD)» و «دستگاه طیف نمایی فلوئورسنس اشعه ایکس (XRF)» با رزولوشن فضایی 100 نانومتر و با ارتقاء دادن دو پرتو اشعه ایکس BL37XU و BL39XU در SPring-8 به طور معمول انجام شده اند. اندازه پرتو تمرکزی می تواند از 50 نانومتر تا 2 میکرومتر متغیر باشد و بالاترین میزان شار با مقدار 1012 photons/s/0.01% b.w در شرایط اندازه پرتو 2300 ×300nm (پهنای کامل در نصف بیشینه) و همچنین در 12 کیلو الکترون ولت حاصل می شود.
1-مقدمه
پرتو متمرکز اشعه ایکس یک ابزار قدرتمند برای آشکار کردن ویژگی های الکترونیکی، شیمیایی، ساختاری و مغناطیسی مواد پیشرفته با رزولوشن فضایی بالاست. پیشرفت های اخیر اپتیک در تولید پرتوهای غیر متمرکز اشعه ایکس، رویایی بوده است [1-3] و ما را قادر به تحلیل نانوپروب اشعه ایکس می سازد. برای کاربردهای گسترده نانوپرتو می توان با استفاده عملی از یک پرتو 100 نانومتری برای برطرف کردن نیازهای مشکلات رایج صنعتی و تحقیقات علمی استفاده کرد....