دانلود مقاله ترجمه شده عیب یابی برپایه داده کاوی

این مقاله به ارائه روش "عیب یابی" بر پایه رویکردهای  "بازسازی فضای حالت" و "داده کاوی" برای سیستم پیچیده  الکترونیکی می پردازد. رویکرد "بازسازی فضای حالت" سریهای زمانی آشفتگی، یک الگوریتم ترکیبی از  " خود همبستگی چندتایی" و ازمون г  می باشد. که به وسیله تاخیر زمانی و "بعد محاطی شبه بهینه" ، بدست می آید.  الگوریتم داده کاوی به شکلی است  که شعاع گردش نقاط به دور مرکز توده در فضای حالت، می تواند پارامتر عیب را از سری های زمانی آشتفتگی به وسیله سیستم آزمون شده ، تشخیص دهد. نتایج تجربی نشان دهند آن است که این روش عیب یابی می تواند به دقت پدیده عیب سیستم الکترونیکی را نشان دهد.

1-مقدمه

هدف فرایند عیب یابی ، نمایش به موقع پدیده های غیرنرمال موجود در حین عملیات سیستم مورد آزمون (STU) می باشد. عیب را به صورت برآورد نوع، و شدت عیب هر موردی که در آن پدیده عیب روی داده ، تعریف می نماییم. تکنیکهای اولیه عیب یابی و تعاریف آن، به طور کلی بر پایه مدلهای هیورستیک تشخیص عیب و کلاس بندی قرار گرفته اند. آنها از تجربه های عملی مهندسان و تکنولوژیست ها برای ساختن انواع گوناگون "پایگاه داده برداری عیب یابی" به وسیله تکنیک فرایندی منفرد ( وضعیت عملیاتی STU به وسیله آنالیز در محدوده تناوبی یا زمان مشخص می شود) ، استفاده کردند...