دانلود مقاله ترجمه شده FCKPT : یک نقطه بررسی افزایشی زیردانه برای PCM

خرابی های سیستم برای سیستم های با مقیاس بزرگ آینده پی در پی  بیشتر خواهد شد و مسائل مربوط به تحمل خرابی فوق العاده مهم خواهد شد. تکنیک های نقطه بررسی-راه اندازی مجدد رویکردهای تحمل خرابیِ بسیار مهمی برای این سیستم ها می باشند.  همانطور که می دانیم، سربار نقطه بررسی ها به طور جدی عملکرد سیستم را تحت تاثیر قرار می دهد.  به تازگی، تغییر فاز تکنولوژی حافظه که در حال پدیدار شدن است دسترس پذیر شده  و می تواند دیسک ها را با دسترسی سریع و ویژگی های بایت-آدرس جایگزین کند.  با این حال، تحقیقات گذشته نشان داده است که استفاده از تکنیک های نقطه بررسی افزایشی متداول مستقیما روی PCM به خوبی اجرا نمی شوند.  در این مقاله، ما یک طرح جدید نقطه بررسی افزایشی را که FCKPT نامیده می شود را پیشنهاد می دهیم و اجرا می کنیم که می تواند دقیق بایت های اصلاح شده از صفحات آلوده را تشخیص دهد.  نتایج آزمایشات ما بر روی چندین بنچمارک شناخته شده نشان می دهد که FCKPT می تواند سایز نقطه بررسی رابدون سربار دیگر هنگامی که با نقطه بررسی های افزایشی متداول سطح صفحه در PCM مقایسه می شود  از 20% تا 50%  کاهش دهد.

سیستم های محاسباتی با عملکرد بالا برای حل مشکلات علمی پیچیده که معمولا برای روزها یا حتی ماهها اجرا می شوند طراحی شده اند.  به منظور اجتناب از محاسبات مجدد از ابتدا که ناشی از خرابی سیستم می باشد، پی آمد تحمل خرابی به یک امر خیلی مهم تبدیل می شود.  اگرچه، گره های منحصر بفرد سیستم های بزرک که برای داشتن میانگین زمان خرابی بالا (MTTF) طراح یده اند، قابلیت اطمینان تمام سیستم مانند تعداد گره های افزایشی به شدت تنزل می یابد.  امروزه، تعداد زیادی از سیستم های بزرگ تکنیک نقطه بررسی- راه اندازی مجدد را برای بهبود قابلیت اطمینان بکار می برند.  اما سربار ناشی از رویکرد تکنولوژی جدید ( State-of-the- art) یک مشکل جدی می باشد...